ZSX Primus IV - Spectromètre WDXRF haut de gamme

Le Rigaku ZSX Primus rapide, puissant et extrêmement fiable, permet la détermination quantitative d’éléments lourds et légers avec une sensibilité inégalée du béryllium 4Be à l’uranium 92U dans différents types de matrices (solides, poudres, liquides, films et revêtements etc...).

Le ZSX Primus est doté d’un tube unique de 30 microns, le tube de fenêtre d’extrémité le plus fin du marché, capable de fournir les limites de détection les plus basses pour les éléments légers (Low-Z) enregistrés sur un spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF). Ce spectromètre WDXRF exceptionnel haut de gamme dispose du logiciel de mapping le plus avancé, le choix parfait pour analyser rapidement les inhomogénéités et les inclusions afin d’obtenir des résultats qui ne sont pas faciles à étudier avec d’autres techniques ou pour éviter les erreurs d’échantillonnage dans les matériaux inhomogènes.

Le logiciel très intuitif EZ-Scan a été développé depuis de nombreuses années et permet à l’utilisateur d’analyser des échantillons inconnus très rapidement et sans configuration préalable. En combinaison avec le logiciel SQX sans standard (FP ou standardless), qui peut corriger automatiquement tous les effets de matrice et les recouvrements spectraux, il fournit les résultats XRF les plus rapides et précis possibles. SQX peut également corriger l’effet d’excitation secondaire par photoélectrons (éléments légers et ultra-légers), différentes atmosphères, impuretés et différentes tailles d’échantillons. Une plus grande précision est obtenue en utilisant la «matching library» avec le programme «perfect scan».

Ce spectromètre WDXRF haut de gamme, puissant et flexible, est le premier choix pour relever les défis des laboratoires modernes dans lesquels les notions d’excellence et de fiabilité inégalée sont de premier ordre.

•    Analyse des éléments du béryllium 4Be à l’uranium 92U.
•    Instrument compact ne nécessitant qu'une minimale dans le laboratoire.
•    Microanalyse pour l’analyse d’échantillons à partir d’une taille de 500 µm.
•    Conception du tube placé sous l'échantillon pour des mesures optimisées des liquides et des poudres.
•    Tube de 30µm offrant des performances inégalées pour les éléments légers.
•    Fonction de cartographie pour la topographie/distribution élémentaire.
•    Le joint d’étanchéité à l’hélium signifie que l’optique reste constamment sous vide.