La spectroscopie de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) est une technique analytique couramment utilisée pour la détermination qualitative et quantitative de la composition élémentaire d'un grand nombre de types d'échantillons. La raison principale de la grande variété d'applications et de la fréquence d'utilisation de l'analyse par fluorescence X (XRF) est que cette méthode analytique permet de réaliser des analyses multi-éléments rapides et non destructives - du sodium Na à l'uranium U dans une plage de mesure allant de quelques ppm à des pourcentages massiques élevés.

Le tout nouveau spectromètre EDXRF NEX CG II fournit d'excellents résultats sur une large gamme de matrices - des liquides homogènes à faible viscosité aux solides, métaux, poudres, pâtes et échantillons en suspension ; revêtements et films minces - avec une préparation minimale des échantillons.

Il est particulièrement adapté à la détermination semi-quantitative de fractions d'éléments dans des échantillons totalement inconnus. Le spectromètre à fluorescence X est largement utilisé dans l'analyse environnementale (détermination des métaux lourds), l'analyse alimentaire, la recherche et l'industrie.

Caractéristiques du système :

• Instrument de conception entièrement nouvelle avec des performances analytiques améliorées :
  • Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses.
  • Le seul véritable EDXRF à géométrie cartésienne sur le marché avec trajectoires de rayons X à 90° (orthogonales) générant une polarisation optimale dans laquelle tous les rayons X sont dans le même plan.
  • Tube à rayons X à anode Pd 50 kV 50 W (NEX CG II) ou 65 kV 100 W (NEX CG II+)
  • 5 cibles secondaires et polariseurs combinés à une cible Al nouvellement optimisée pour un LOD 10 fois inférieur pour certains éléments.
  • L'excitation indirecte supprime le bruit de fond de Bremsstrahlung dans toute la gamme d'énergie et augmente le rapport signal/bruit, ce qui permet d'abaisser les limites de détection, d'améliorer la précision et donc d'obtenir d'excellentes performances en matière de PF.

• Détecteur SDD grande surface dernière génération:
  
  • Résolution exceptionnelle <135eV @ Mn K-alpha
  • Processeur d'impulsions numérique avec shaping time sélectionnable par l'utilisateur.
  • Offre une augmentation de la sensibilité d'au moins un facteur 2 pour la plupart des éléments par rapport à la première génération de NEX CG, rendant le NEX CG II même comparable à certains WDXRF pour certaines applications.

• Purge à l'hélium améliorée ne nécessitant que la moitié du débit (0,35 L/min) par rapport au NEX CG

• Des passeurs d'échantillons nouvellement développés avec une position de parking unique pour éviter tout risque de déversement après la mesure, disponibles en 4 versions :
  • 15 positions 32mm
  • 10 positions 40mm
  • 10 positions 40mm avec rotation de l'échantillon
  • 9 positions 52mm pour les grands échantillons comme les filtres

• Grande chambre à échantillon
  • 32,5 cm de diamètre x 7,5 cm de profondeur

• Taille physique réduite de 40% et poids réduit de 18% par rapport à la première génération de NEX CG

• Logiciel QuantEZ puissant et facile à utiliser
  • Interface utilisateur multilingue
  • LIMS

• Faible coût de possession assorti d'une garantie de 2 ans